电子产品中的开关/按键可靠性设计的要求

在前天分享的反汇编相关的微头条中,提到了通过ADC进行按键检测的电路。

不少网友反馈通过ADC检测按键很不可靠。

我结合多前年从事汽车电子的经验,说一下开关/按键检测的可靠性设计要求,

这些要求也是我收集相关资料翻译并加上自己的理解之后整理而成,如下:

开关闭合时的接触电阻

在其寿命范围内,开关的闭合接触电阻(通过7-50mA电流) 不能超过20ohms。开关触点的最大允许压降必须小于1V。

模块必须把闭合开关当作50ohms的接触电阻来考虑。采用WCCA验证

备注:一些专业开关/传感器(如油压,低温冷凝剂)具有高达1000ohms的接触电阻。

开关断开时的绝缘电路

开关绝缘电路必须大于100K ohms.模块必须以100K ohms的电阻为断开的开关建模。

开关湿电流

对于机械触点的开关,检测电路在其闭合期间,需要提供10mA左右的导通电流,该电流被称之为湿电流。

湿电流是指通过一定的小电弧清理触头表面的尘垢和腐蚀,以保持触头状态良好的最小电流值。它通常远低于触点的额定电流值,一般为1~20 mA。

开关检测去抖—最大采样周期


采样周期不能超过11毫秒。仅适用于以下输入:单数字输入,多数字输入,连续模拟,离散模拟。

机械开关的关键寿命测试,最差条件下的稳定时间为15毫秒(新开发的开关的设计已经做到小于等于2毫秒的去抖)。一个3倍的余量导致一个45毫秒的去抖。45毫秒除以4个采样周期得到的每个采样周期为11.25毫秒。

开关检测去抖—去抖次数

在去抖时间必须为34-56毫秒,且最少5个连续的采样。所有的采样数据必须相同,这样才能确定一个去抖值。

基于机械开关的寿命测试,最差情况下的稳定时间为15毫秒(最新的开关都已设计成<= 2毫秒的去抖时间)。 

一个3倍的余量相当于有一个45秒的去抖时间,即4个采样周期,提高了产品的抗干扰能力。但是,需要进行5次采样以达到4个采样周期。

电子产品中的开关/按键可靠性设计的要求

低边开关检测电路以及等效模型

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页面更新:2024-05-15

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