透射电镜论文解读-第十期

论文简要

本文系统地研究了不同高度的热变形Nd-Fe-B磁体的富钕相演变。

扫描电子显微镜（SEM）和透射电子显微镜（TEM）的结果表明，在热压磁体中产生了无序定向的板状晶粒，并在没有任何变形的情况下进行高温处理。在这种情况下，晶界（GBs）和三结区（TJRs）为在磁带内储存富钕相提供了丰富的空间。

随着高度的降低，板状晶粒不断长大并有规律地排列，导致晶带内部的GBs和TJRs减少。由于缺乏储存点，液态富钕相很容易被挤压到晶带之间的空隙，在压力下形成块状的富钕相。

能量色散X射线光谱（STEM-EDS）结果表明，块状富钕相的形成不仅导致了薄晶界的形成，而且还导致了磁带内部非铁磁相元素含量的减少。

由于GBs对磁畴壁的钉扎作用减弱，矫顽力的机制逐渐从钉扎场控制变为反向磁畴成核。因此，随着高度减少70%，剩磁从8.32 kG增加到13.62 kG，而矫顽力从19.62 kOe明显下降到11.57 kOe。因此，在制造具有高矫顽力的热变形Nd-Fe-B磁体时，避免形成块状的富Nd相是至关重要的。

这次仍旧从透射电镜方面出发，

来解读文章中的电镜图片

看图说话

图1

HD25（a）和HD70（d）磁体的BF透射电子显微镜（TEM）图像；

HD25（b，c）和HD70（e，f）磁体的高分辨TEM（HRTEM）图像。

对钕铁硼进行了热变形处理，

高度分别降低了0%、25%、40%、60%和70%。

与上述高度降低相对应的准备好的样品

分别表示为HD0、HD25、HD40、HD60和HD70。

Nd2Fe14B晶粒形态、晶界富钕相宽度

01形貌像

变形过程中纹理与高度较低有关：在HD25的透射电镜明场像下，晶粒方向是随机的，而HD70的晶粒是有规律的堆叠，

02高分辨像

三叉晶界及相邻晶界的数量以及晶界处的富Nd相含量减少：在HD70的透射电镜高分辨图片中，晶界富Nd相宽度小于HD25

图1透射电镜数据处理要点：

晶界相厚度测量

（建议使用DigitalMicrograph软件，版本3.0以上）

① 文字教程

使用DM软件中：profile 功能：

图2

HD25（a）和HD70（b）的HAADF-STEM图像

和相应的STEM-EDS元素图谱的Nd、Fe、Co和Ga。

表1. 图2中HD25和HD70三叉晶界成分（at.%）。

图2透射电镜数据处理要点：

晶粒形态、钕元素分布

01STEM-HAAD

三叉晶界数量HD70明显少于HD25，一些Nd2Fe14B晶粒直接接触

02EDS-Mapping

Nd与添加剂Ga分布相似

03EDS-points

晶界处Nd含量下降以及晶粒内部其他元素也相应减少。

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