胎盘植入谱系疾病的无创诊断技术

2021年8月3日，Nature Communications发表了一项针对胎盘植入谱系（placenta accreta spectrum，PAS）疾病的无创早期诊断技术（题：Circulating trophoblast cell clusters for early detection of placenta accreta spectrum disorders）。PAS疾病患者在妊娠期间会出现胎盘过度侵入子宫肌层的现象，这种疾病会导致孕产妇在分娩中死亡，本研究结果或能辅助该病的早期诊断。

胎盘植入谱系疾病包括侵入性胎盘、植入性胎盘、穿透性胎盘，是指妊娠期间胎盘过度侵入子宫肌层，且在分娩时无法脱落【1】。这可能会造成严重出血，而严重出血有时会导致产妇死亡【2,3】。现阶段针对PAS疾病的诊断已有多种技术手段，如血清分析、超声诊断、以及磁共振成像，这些诊断方法虽然有效，但其准确率并不足以诊断出所有PAS病例，而且在医疗资源匮乏的地区，这些技术手段的推广应用受到了限制【4-6】。因此，研发出新型诊断技术以提高孕期PAS的诊断准确性对于保障孕产妇安全至关重要。

研究者对之前开发的NanoVelcro芯片进行了优化，该芯片包含很细的硅纳米线，外部涂有能检测循环滋养层细胞（组成胎盘的细胞）的抗体。这些细胞会在胎盘发育过程中单个或聚集脱落到母体血液循环中，细胞数量的增加可能提示PAS。

图1 NanoVelcro芯片捕获、检测单个/聚集的循环滋养层细胞示意图

研究者对168位孕妇进行了血检，有些孕妇被诊断患有PAS，有些被诊断为胎盘前置（胎盘覆盖宫颈内口），有些胎盘形成正常。研究中发现，PAS组的单个和聚集循环滋养层细胞计数比其他两个组更高。此外，单个和聚集循环滋养层细胞的数量有助于在妊娠早期将PAS从前置胎盘和正常胎盘中区分出来。

图2. 临床试验设计流程图

作者指出，仍需利用更大样本开展进一步研究，但这种诊断技术有望在将来补充现有技术，提高妊娠早期诊断胎盘植入谱系疾病的准确性。本文的通讯作者为加州大学洛杉矶分校的曾宪荣、朱亚珍，西达赛奈医疗中心（Cedars-Sinai Medical Center）的Margareta D. Pisarska和深圳市人民医院的邹畅，加州大学洛杉矶分校的Yalda Afshar为文章第一作者。