意法半导体取得检测破坏集成电路完整性企图方法及集成电路专利

金融界2025年7月8日消息,国家知识产权局信息显示,意法半导体(鲁塞)公司取得一项名为“检测破坏集成电路的完整性的企图的方法及集成电路”的专利,授权公告号CN111933584B,申请日期为2020年05月。

本文源自金融界

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更新时间:2025-07-09

标签:科技   集成电路   半导体   完整性   专利   方法   金融界   国家知识产权局   本文   日期   消息

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