苹果正在开发芯片品质检测系统，克服巨量转移效率瓶颈

CINNO Research产业资讯，据报道，苹果正在开发一种可以提高Micro-LED显示器转移效率的芯片质量管控方法。与目前广泛应用的OLED显示器相比，Micro-LED显示器具有许多优势，可能会在Apple Watch或iPhone等未来设备中使用。

与LCD或OLED显示器相比，Micro-LED显示面板可以提供更好的对比度，更快的响应时间和更低的能耗。据相关报道，苹果正在考虑将这种显示面板用于其未来版Apple Watch或iPhone等产品上。

不过，就目前来看，Micro-LED技术还面临着很多瓶颈性问题。正如苹果公司在周二授予的专利中指出的那样，Micro-LED显示面板商业化的瓶颈之一就是“拾取和放置Pick-and-Place（拾取和放置）”问题，即巨量转移问题。为了完成显示面板的制造，制造商必须使用特定的“Pick-and-Place”技术完成芯片的巨量转移。一般来说，巨量转移过程不可避免会因为部分芯片自身问题而导致转移完成后的重工，此时精确测定Micro-LED芯片的质量情况至关重要。

这就是苹果公司在其名为“Micro-LED芯片的测试”的专利中要解决的问题。苹果公司针对Micro-LED显示面板制作之前芯片的质量设计了一种非常好的监测系统。

在该专利的内容中，苹果公司设计了一种特定的测试设备和体系结构，相应还提供了一种方法。通过设备和方法的使用，制造商可以在将Micro-LED芯片或行/列驱动器转移到显示驱动面板上之前对其进行精确定位和监测识别。

该设计系统的目标是在将芯片绑定到基板上之前，检测出质量不合格的Micro-LED芯片。当问题芯片被发现后，制造商便可以对此做出轻松处理，这样就非常有助于后段的巨量转移良率和相应的成本问题。

“在检测出微型驱动器或者Micro-LED芯片是否正常工作后，系统会相应做出决定处理，” 苹果公司在专利中写道：“在一些实施例中，该决定还可以在对显示器进行过光学扫描之后做出。另外一种替代方案是，在正常工作时测量驱动电路上的电流和/或电压以确定芯片之间的数值水平是否符合预期（比如电压出现特定大小的压降）。”

在处理方案中，任何特定的微型驱动器或Micro-LED芯片在被检测出问题后都会被丢弃，并用一颗无缺陷的驱动器或Micro-LED芯片代替。苹果公司还指出，无论何时进行测试，系统都会使用一种映射方案，来用一些备用的微型驱动器或Micro-LED芯片代替有缺陷的微型驱动器或Micro-LED芯片。

再具体一点，该系统的测试还可以细分成不同的类别。举个例子，如果Micro-LED显示器的亮度低于预期，该系统可以继续进行一次更严格的测试，以确认特定Micro-LED芯片是否出现问题，或者微型驱动器是否导致一定数量Micro-LED芯片性能的下降。

苹果公司于2018年3月首次申请该专利，其发明人包括Mahdi Farrokh Baroughi，Bo Yang，Xian Lu和Hopil Bae。在其中，Bae先前已获得与自适应亮度控制相关的其他专利。

这里，上述专利所描述的技术何时会应用还不能确定。实际上，苹果每周都会申请并获得许多专利，不过这些专利本身并不能保证一定会在将来有实际应用。

据之前的报道来看，苹果公司正在考虑于2023或2024年，在Apple Watch中使用Micro-LED显示屏。另外还有报道说，富士康正在争取苹果Micro-LED版 iPhone显示屏的生产订单。

- END -