半导体测试需求回暖 探针使用量有望大幅增加

据行业媒体报道,消息人士称,显示驱动IC(DDI)库存调整从2022年第一季度开始,PC周边芯片的库存调整甚至在2021年底就开始了。经过长时间的DDI库存修正后,IC设计公司开始下单探针卡来满足需求。

半导体测试探针用于设计验证、晶圆测试、成品测试环节,筛选出产品设计缺陷和制造缺陷,在确保产品良率、控制成本、指导芯片设计和工艺改进等方面具有重要作用。机构分析指出,一方面,Chiplet将一颗大的SoC芯片拆分成多个芯粒,相较于测试完整芯片难度更大,为保证最后芯片的良率,需要保证每个Chiplet的die都有效,因此将会对每一个die进行全检,探针等测试设备的使用量将大幅增加。

据财联社主题库显示,相关上市公司中:

和林微纳定增项目MEMS晶圆级测试探针主要应用于前道晶圆测试,公司所属半导体芯片测试探针直接供给NVIDIA。

长川科技产品覆盖测试机、探针台和分选机三大块主要测试设备,产品获得了长电科技、华天科技、日月光等多个一流集成电路企业的使用和认可。

关联个股和林微纳-3.76%长川科技-1.25%

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页面更新:2024-05-23

标签:探针   半导体   测试   集成电路   缺陷   大幅   芯片   库存   需求   设备   产品   科技

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